IAEM
Laboratoire : CRAN
Sujet de thèse : Méthodologie d'optimisation de plan de test pour l'évaluation de la fiabilité de composants optoélectroniques.
Date de soutenance : 14/09/2022
Directeur / Directrice de thèse : IUNG Benoît
Co-directeur / Co-directrice de thèse : DO Van Phuc